Volltextsuche nutzen
- versandkostenfrei ab € 30,–
- 11x in Wien, NÖ und Salzburg
- 6 Mio. Bücher
Veröffentlicht 2001
von Alain C. Diebold bei CRC Press
ISBN: 978-0-203-90454-1
2003 International Conference on Characterization and Metrology for ULSI Technology
2003 International Conference on Characterization and Metrology for ULSI Technology
Veröffentlicht 2003
von David G. Seiler, Alain C. Diebold, Thomas J. Shaffner, Robert McDonald, Stefan Zollner, Rajinder P. Khosla, Eric M. Secula bei Springer, Berlin
ISBN: 978-0-7354-0152-5
2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
Veröffentlicht 2007
von David G. Seiler, Alain C. Diebold, Robert McDonald, C. Michael Garner, Dan Herr, Rajinder P. Khosla, Erik M. Secula bei Springer, Berlin
ISBN: 978-0-7354-0441-0
2009
Veröffentlicht 2009
von David G. Seiler, Alain C. Diebold, Robert McDonald, C. Michael Garner, Dan Herr, Rajinder P. Khosla, Erik M. Secula bei Springer, Berlin
ISBN: 978-0-7354-0712-1