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Handbook of Silicon Semiconductor Metrology

Veröffentlicht 2001
von Alain C. Diebold bei CRC Press
ISBN: 978-0-203-90454-1

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Characterization and Metrology for ULSI Technology: 2003

2003 International Conference on Characterization and Metrology for ULSI Technology

Characterization and Metrology for ULSI Technology: 2003
Characterization and Metrology for ULSI Technology: 2003

2003 International Conference on Characterization and Metrology for ULSI Technology

Veröffentlicht 2003
von David G. Seiler, Alain C. Diebold, Thomas J. Shaffner, Robert McDonald, Stefan Zollner, Rajinder P. Khosla, Eric M. Secula bei Springer, Berlin
ISBN: 978-0-7354-0152-5

Hardcover 181,45
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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics

2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics

2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics

Veröffentlicht 2007
von David G. Seiler, Alain C. Diebold, Robert McDonald, C. Michael Garner, Dan Herr, Rajinder P. Khosla, Erik M. Secula bei Springer, Berlin
ISBN: 978-0-7354-0441-0

Kombipaket 151,64
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