Volltextsuche nutzen
- versandkostenfrei ab € 30,–
- 11x in Wien, NÖ und Salzburg
- 6 Mio. Bücher
Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
2009
Veröffentlicht 2009
von David G. Seiler, Alain C. Diebold, Robert McDonald, C. Michael Garner, Dan Herr, Rajinder P. Khosla, Erik M. Secula bei Springer, Berlin
ISBN: 978-0-7354-0712-1
Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
Veröffentlicht 2007
von David G. Seiler, Alain C. Diebold, Robert McDonald, C. Michael Garner, Dan Herr, Rajinder P. Khosla, Erik M. Secula bei Springer, Berlin
ISBN: 978-0-7354-0441-0